首页  ꄲ  半导体晶片检测

半导体晶片检测

我司配备针对碳化硅晶片的各种先进检测设备，可提供碳化硅晶片（衬底和外延）表面缺陷及外延层错（PL)的检测与分析的服务。详情请与我司市场部联系。
ꄴ上一个： 无
ꄲ下一个： 碳化硅外延晶片
넳 넲