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碳化硅外延晶片
8、6、4、3英寸碳化硅外延晶片,应用于600V~6500V碳化硅电力电子功率器件。
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半导体晶片检测
我司配备针对碳化硅晶片的各种先进检测设备,可提供碳化硅晶片(衬底和外延)表面缺陷及外延层错(PL)的检测与分析的服务。详情请与我司市场部联系。
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